1.Integrated ûntwerp fan optyske metallografyske mikroskoop en atoomkrêftmikroskoop, krêftige funksjes
2.It hat sawol optyske mikroskoop as atoomkrêft mikroskoop imaging funksjes, dy't beide tagelyk kinne wurkje sûnder elkoar te beynfloedzjen
3.Tagelyk hat it de funksjes fan optyske twadiminsjonale mjitting en atoomkrêftmikroskoop trijediminsjonale mjitting
4. De laserdeteksjekop en de sample skennen poadium binne yntegreare, de struktuer is tige stabyl, en de anty-ynterferinsje is sterk
5. Precision probe posisjonearring apparaat, laser spot alignment oanpassing is hiel maklik
6. De single-axis drive sample komt automatysk de sonde fertikaal oan, sadat de tip fan 'e needle loodrecht op it probleem skansearre wurdt
7. De yntelliginte needlefoedmetoade fan 'e motor-kontroleare piezoelektryske keramyske automatyske deteksje beskermet de sonde en de stekproef
8. Ultra-hege fergrutting optysk posisjonearring systeem te berikken sekuere posisjonearring fan sonde en sample skennen gebiet
9. Yntegreare scanner net-lineêre korreksje brûkersbewurker, nanometerkarakterisaasje en mjittingsnauwkeurigens better dan 98%
Spesifikaasjes:
| Operating modus | touch modus, tap modus |
| Opsjonele modus | Friction / Lateral Force, Amplitude / Fase, Magnetic / Electrostatic Force |
| krêft spektrum kromme | FZ krêft kromme, RMS-Z kromme |
| XY scan berik | 50*50um, opsjoneel 20*20um, 100*100um |
| Z scan berik | 5um, opsjoneel 2um, 10um |
| Scan resolúsje | Horizontaal 0.2nm, Fertikaal 0.05nm |
| Sample grutte | Φ≤68mm, H≤20mm |
| Sample stage travel | 25*25 mm |
| Optysk okular | 10X |
| Optyske objektyf | 5X / 10X / 20X / 50X Plan Apochromatyske doelstellings |
| Ferljochting metoade | LE Kohler Lighting System |
| Optyske fokus | Rûch hânmjittich fokus |
| Kamera | 5MP CMOS sensor |
| skerm | 10.1 inch platte paniel display mei grafyske mjitting funksje |
| Scan snelheid | 0.6Hz-30Hz |
| Scan hoeke | 0-360° |
| Bedriuwsomjouwing | Windows XP/7/8/10 bestjoeringssysteem |
| Kommunikaasje ynterface | USB 2.0/3.0 |
